攝像頭/高低溫沖擊測(cè)試箱 高低溫試驗(yàn)箱

攝像頭/高低溫沖擊測(cè)試箱；試驗(yàn)設(shè)備采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，即試驗(yàn)箱由位于上部的高溫試驗(yàn)箱，位于下部的低溫試驗(yàn)箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜（系統(tǒng)）所組成。

高低溫沖擊測(cè)試箱產(chǎn)品用途：適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測(cè)試設(shè)備，考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品，在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能，使用的適應(yīng)性，適用于學(xué)校

攝像頭/高低溫沖擊測(cè)試箱：滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則

GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

GJB150.5A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)

GJB360B-2009電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法107溫度沖擊試驗(yàn)